样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法

本发明提供在对一个或多个测量对象成分进行的定量分析中能同时降低干扰影响与测量误差的样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法。样品气体分析装置（100）使用向样品照射光而得到的光谱对所述样品中的一个或多个测量对象成分进行定量分析，并根据从开始产生样品气体到经过规定时间为止的第一产生条件以及经过所述规定时间后的第二产生条件对在多变量分析中使用的库数据进行切换，当处于第一产生条件时，使用对测量对象外成分的干扰影响进行了修正的第一库数据对多个测量对象成分进行定量分析，当处于第二产生条件时，使用没有对测量对象外成分的干扰影响进行修正的第二库数据对多个测量对象成分进行定量分析。